微觀譜圖分析 ? 組成元素分析
定性定量分析 ? 組成成分分析
性能質(zhì)量 ? 含量成分
爆炸極限 ? 組分分析
理化指標(biāo) ? 衛(wèi)生指標(biāo) ? 微生物指標(biāo)
理化指標(biāo) ? 微生物指標(biāo) ? 儀器分析
安定性檢測(cè) ? 理化指標(biāo)檢測(cè)
產(chǎn)品研發(fā) ? 產(chǎn)品改善
國(guó)標(biāo)測(cè)試 ? 行標(biāo)測(cè)試
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中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
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北京市豐臺(tái)區(qū)航豐路8號(hào)院1號(hào)樓1層121[可寄樣]
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成分分析,配方還原,食品檢測(cè),藥品檢測(cè),化妝品檢測(cè),環(huán)境檢測(cè),性能檢測(cè),耐熱性檢測(cè),安全性能檢測(cè),水質(zhì)檢測(cè),氣體檢測(cè),工業(yè)問(wèn)題診斷,未知成分分析,塑料檢測(cè),橡膠檢測(cè),金屬元素檢測(cè),礦石檢測(cè),有毒有害檢測(cè),土壤檢測(cè),msds報(bào)告編寫等。
發(fā)布時(shí)間:2025-05-17
關(guān)鍵詞:金合金表殼質(zhì)量試驗(yàn)儀器,金合金表殼質(zhì)量檢測(cè)方法,金合金表殼質(zhì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)
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來(lái)源:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
因業(yè)務(wù)調(diào)整,部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托,望見(jiàn)諒。
金合金表殼質(zhì)量評(píng)價(jià)體系包含六大核心模塊:材料成分分析驗(yàn)證貴金屬含量符合標(biāo)稱成色;維氏/洛氏硬度測(cè)試評(píng)估材料機(jī)械強(qiáng)度;中性鹽霧試驗(yàn)?zāi)M長(zhǎng)期佩戴環(huán)境下的耐腐蝕性能;三維輪廓掃描檢測(cè)尺寸公差;金相顯微鏡觀察微觀組織結(jié)構(gòu);X射線探傷排查內(nèi)部缺陷。
具體指標(biāo)要求:18K金Au含量須達(dá)750.5%,表層維氏硬度HV0.3≥160;連續(xù)240小時(shí)鹽霧試驗(yàn)后表面腐蝕面積≤0.1%;表耳與殼體連接處應(yīng)力集中區(qū)域需100%進(jìn)行微焦點(diǎn)CT掃描;表圈鑲嵌槽尺寸公差控制在5μm范圍內(nèi)。
本檢測(cè)規(guī)程適用于各類貴金屬腕表殼體:按成色劃分涵蓋14K/18K/22K黃金、玫瑰金及白金制品;按工藝類型包含鑄造成型、CNC精加工及沖壓拉伸殼體;按表面處理區(qū)分電鍍層、噴砂處理及鏡面拋光產(chǎn)品。
特殊應(yīng)用場(chǎng)景需增加專項(xiàng)測(cè)試:潛水表殼體須通過(guò)30bar水壓密封測(cè)試;鑲鉆款式需進(jìn)行50次循環(huán)沖擊試驗(yàn)驗(yàn)證寶石鑲爪強(qiáng)度;雙色拼接殼體需額外開(kāi)展熱膨脹系數(shù)匹配性測(cè)試。
1.材料成分分析采用X射線熒光光譜法(XRF)與電感耦合等離子體發(fā)射光譜法(ICP-OES)雙驗(yàn)證機(jī)制:XRF進(jìn)行無(wú)損快速篩查后,對(duì)關(guān)鍵元素使用ICP-OES進(jìn)行精確量化分析。
2.機(jī)械性能測(cè)試執(zhí)行ISO6507-1:2018標(biāo)準(zhǔn):在殼體應(yīng)力集中區(qū)域選取5個(gè)測(cè)量點(diǎn)進(jìn)行維氏硬度測(cè)試,壓頭載荷選用0.3kgf保持15秒。
3.耐腐蝕性評(píng)估依據(jù)ASTMB117標(biāo)準(zhǔn)建立加速腐蝕環(huán)境:將試樣置于35℃1℃的5%NaCl霧化環(huán)境中持續(xù)240小時(shí),使用KeyenceVHX-7000超景深顯微鏡定量分析腐蝕面積。
儀器類型 | 技術(shù)參數(shù) | 應(yīng)用場(chǎng)景 |
---|---|---|
X射線熒光光譜儀 | Rh靶材/50kV管壓/Be窗厚75μm | 表層元素半定量分析 |
顯微硬度計(jì) | 載荷范圍1gf-10kgf/光學(xué)系統(tǒng)500 | 微觀區(qū)域硬度測(cè)定 |
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) | 測(cè)量精度0.6+L/400μm/溫度補(bǔ)償0.1℃ | 三維形位公差檢測(cè) |
氦質(zhì)譜檢漏儀 | 靈敏度110-9mbarL/s | 防水殼體密封性驗(yàn)證 |
激光共聚焦顯微鏡 | 垂直分辨率0.5nm/橫向分辨率120nm | 表面粗糙度分析 |
關(guān)鍵設(shè)備均通過(guò)CNAS校準(zhǔn)認(rèn)證:XRF配備多基體校準(zhǔn)標(biāo)樣組(涵蓋Au-Ag-Cu-Zn體系),三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)配置藍(lán)寶石探針系統(tǒng)(直徑0.3mm),顯微硬度計(jì)加載機(jī)構(gòu)配備閉環(huán)伺服控制系統(tǒng)(載荷誤差≤0.5%)。所有儀器運(yùn)行環(huán)境嚴(yán)格控制在溫度231℃、濕度455%RH的恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)室。
1、咨詢:提品資料(說(shuō)明書、規(guī)格書等)
2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求
3、填寫檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)
4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測(cè))
5、收到樣品,安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)
6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù),編寫報(bào)告草件,確認(rèn)信息是否無(wú)誤
7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件
8、寄送報(bào)告原件