因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托，望見諒。

檢測(cè)項(xiàng)目

Ra值測(cè)定：測(cè)量表面的算術(shù)平均偏差。檢測(cè)參數(shù)：范圍0.01-100 μm，精度±0.05 μm。

Rz值測(cè)定：評(píng)估最大高度粗糙度。檢測(cè)參數(shù)：范圍0.1-200 μm，分辨率0.02 μm。

Rq值測(cè)定：計(jì)算均方根粗糙度。檢測(cè)參數(shù)：范圍0.01-150 μm，誤差率2%以內(nèi)。

Rt值測(cè)定：確定總高度輪廓粗糙度。檢測(cè)參數(shù)：范圍0.1-250 μm，重復(fù)性0.03 μm。

Rp值測(cè)定：測(cè)量最大峰高。檢測(cè)參數(shù)：范圍0.05-100 μm，精度±0.04 μm。

Rv值測(cè)定：評(píng)估最大谷深。檢測(cè)參數(shù)：范圍0.05-100 μm，分辨率0.02 μm。

Rsm值測(cè)定：計(jì)算平均間距。檢測(cè)參數(shù)：范圍0.1-500 μm，公差±10%以內(nèi)。

Rsk值測(cè)定：分析輪廓偏度。檢測(cè)參數(shù)：范圍-3至+3，靈敏度0.1單位。

Rku值測(cè)定：評(píng)估輪廓峰度。檢測(cè)參數(shù)：范圍0-10，精度±0.2單位。

Rmr值測(cè)定：測(cè)定材料比率。檢測(cè)參數(shù)：范圍0-100%，誤差±1%以內(nèi)。

Rδc值測(cè)定：計(jì)算輪廓核心深度。檢測(cè)參數(shù)：范圍0.1-50 μm，重復(fù)性0.05 μm。

Rλa值測(cè)定：評(píng)估波長(zhǎng)過(guò)濾粗糙度。檢測(cè)參數(shù)：范圍0.01-50 μm，分辨率0.01 μm。

檢測(cè)范圍

不銹鋼材料：高強(qiáng)度耐腐蝕合金拋光表面。

鋁合金部件：輕質(zhì)航空組件表面處理。

鈦合金植入物：醫(yī)療假體拋光輪廓。

軸承滾道：機(jī)械旋轉(zhuǎn)部件表面光潔度。

齒輪齒面：傳動(dòng)系統(tǒng)磨損評(píng)估。

光學(xué)鏡片：精密成像元件粗糙度控制。

半導(dǎo)體晶圓：電子芯片表面平坦度。

汽車活塞：引擎組件摩擦性能。

模具型腔：注塑成型表面紋理。

刀具刃口：切削工具耐磨性分析。

管道內(nèi)壁：流體系統(tǒng)流動(dòng)阻力評(píng)估。

手表外殼：裝飾性拋光美學(xué)要求。

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

ISO 4287:1997 幾何產(chǎn)品規(guī)范(GPS) — 表面結(jié)構(gòu)：輪廓法 — 術(shù)語(yǔ)、定義和表面結(jié)構(gòu)參數(shù)。

ISO 4288:1996 幾何產(chǎn)品規(guī)范(GPS) — 表面結(jié)構(gòu)：輪廓法 — 規(guī)則和程序評(píng)定表面結(jié)構(gòu)。

ASME B46.1-2019 表面紋理標(biāo)準(zhǔn)。

GB/T 1031-2009 產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu)輪廓法表面粗糙度參數(shù)及其數(shù)值。

GB/T 3505-2000 產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu)輪廓法術(shù)語(yǔ)定義及表面結(jié)構(gòu)參數(shù)。

ASTM D7127-13 工業(yè)表面拋光粗糙度測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)指南。

DIN 4768:1990 表面粗糙度測(cè)量參數(shù)定義。

JIS B 0601:2013 表面粗糙度定義及表示。

GB/T 6060.2-2019 表面粗糙度比較樣塊第2部分：拋光和精加工表面。

ISO 13565-2:1996 幾何產(chǎn)品規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu)：輪廓法具有分層功能特性的表面第2部分：高度特性使用線性材料比率曲線。

檢測(cè)儀器

表面輪廓儀：接觸式探針測(cè)量表面高度變化。具體功能：用于Ra、Rz等參數(shù)的直接輪廓掃描。

光學(xué)干涉儀：非接觸式光波干涉分析表面形貌。具體功能：評(píng)估拋光表面微觀起伏和缺陷。

激光掃描顯微鏡：高分辨率3D表面重建裝置。具體功能：測(cè)量Rq、Rsk等參數(shù)的空間分布。

白光干涉儀：寬光譜光源干涉測(cè)量系統(tǒng)。具體功能：檢測(cè)拋光表面均勻性和波長(zhǎng)過(guò)濾粗糙度。

原子力顯微鏡：納米級(jí)探針掃描表面原子結(jié)構(gòu)。具體功能：分析超精密拋光表面形貌。

共焦顯微鏡：焦點(diǎn)深度掃描成像儀器。具體功能：測(cè)量光學(xué)拋光表面的Rmr和Rδc參數(shù)。

電子輪廓計(jì)：非接觸式電子束掃描裝置。具體功能：用于高溫或敏感表面的粗糙度檢測(cè)。

粗糙度標(biāo)準(zhǔn)比對(duì)塊：校準(zhǔn)用參考表面樣本。具體功能：驗(yàn)證測(cè)量?jī)x器精度和一致性。

檢測(cè)流程

1、咨詢：提品資料(說(shuō)明書、規(guī)格書等)

2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求

3、填寫檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測(cè))

5、收到樣品，安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)

6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫報(bào)告草件，確認(rèn)信息是否無(wú)誤

7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件

8、寄送報(bào)告原件