微觀譜圖分析 ? 組成元素分析
定性定量分析 ? 組成成分分析
性能質(zhì)量 ? 含量成分
爆炸極限 ? 組分分析
理化指標(biāo) ? 衛(wèi)生指標(biāo) ? 微生物指標(biāo)
理化指標(biāo) ? 微生物指標(biāo) ? 儀器分析
安定性檢測(cè) ? 理化指標(biāo)檢測(cè)
產(chǎn)品研發(fā) ? 產(chǎn)品改善
國(guó)標(biāo)測(cè)試 ? 行標(biāo)測(cè)試
中析研究所檢測(cè)中心
400-635-0567
中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
公司地址:
北京市豐臺(tái)區(qū)航豐路8號(hào)院1號(hào)樓1層121[可寄樣]
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010-8646-0567
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成分分析,配方還原,食品檢測(cè),藥品檢測(cè),化妝品檢測(cè),環(huán)境檢測(cè),性能檢測(cè),耐熱性檢測(cè),安全性能檢測(cè),水質(zhì)檢測(cè),氣體檢測(cè),工業(yè)問(wèn)題診斷,未知成分分析,塑料檢測(cè),橡膠檢測(cè),金屬元素檢測(cè),礦石檢測(cè),有毒有害檢測(cè),土壤檢測(cè),msds報(bào)告編寫等。
發(fā)布時(shí)間:2025-05-28
關(guān)鍵詞:銀-明膠縮微品質(zhì)量檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn),銀-明膠縮微品質(zhì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu),銀-明膠縮微品質(zhì)量項(xiàng)檢測(cè)報(bào)價(jià)
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來(lái)源:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
因業(yè)務(wù)調(diào)整,部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托,望見(jiàn)諒。
密度計(jì)法:采用透射式密度計(jì)測(cè)量各灰階區(qū)域的影像密度值,精度達(dá)0.02D
顯微圖像分析法:使用500倍金相顯微鏡配合圖像處理軟件統(tǒng)計(jì)銀顆粒粒徑分布
劃痕試驗(yàn)法:以標(biāo)準(zhǔn)硬度探針進(jìn)行劃痕測(cè)試評(píng)估明膠層與基材結(jié)合強(qiáng)度
離子色譜法:測(cè)定殘留硫代硫酸鈉及鹵素離子含量,檢出限達(dá)0.1μg/cm
加速老化法:在85℃/85%RH環(huán)境下進(jìn)行加速老化實(shí)驗(yàn)評(píng)估材料穩(wěn)定性
分光光度法:通過(guò)紫外-可見(jiàn)光譜分析明膠交聯(lián)度及降解產(chǎn)物
三點(diǎn)彎曲法:使用萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)測(cè)試膠片耐折性能
激光散射法:采用粒度分析儀測(cè)量銀顆粒團(tuán)聚程度
恒溫恒濕法:在溫度循環(huán)箱中監(jiān)測(cè)尺寸變化率
電鏡能譜法:通過(guò)SEM-EDS進(jìn)行元素分布圖譜分析
ISO6199:2005攝影技術(shù)-已加工攝影膠片-貯存規(guī)范
GB/T18444-2023已加工攝影膠片長(zhǎng)期貯存技術(shù)規(guī)范
ANSI/AIIMMS23-2019縮微膠片質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)與檢驗(yàn)程序
ISO18901:2010成像材料-已加工銀明膠型黑白膠片-穩(wěn)定性規(guī)范
JISK7553:2018縮微膠片物理性能試驗(yàn)方法
DA/T43-2021檔案級(jí)縮微膠片技術(shù)要求和檢測(cè)方法
ASTMF1248-16銀鹽膠片硫代硫酸鹽殘留量測(cè)定標(biāo)準(zhǔn)方法
ISO18916:2007成像材料-化學(xué)藥品殘留量測(cè)定規(guī)程
GB/T26182-2023縮微攝影技術(shù)分辨率測(cè)試標(biāo)板的制作與使用
ISO18918:2020成像材料-已加工照相膠片-耐劃傷性測(cè)定方法
透射式密度計(jì):配備0.01mm測(cè)量孔徑的精密光學(xué)系統(tǒng),用于灰階密度測(cè)量
環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn)箱:可編程溫濕度控制系統(tǒng),滿足ISO18921老化試驗(yàn)要求
納米壓痕儀:配備Berkovich壓頭用于明膠層彈性模量測(cè)定
激光共聚焦顯微鏡:三維表面形貌重建精度達(dá)10nm級(jí)
電感耦合等離子體質(zhì)譜儀:金屬元素分析靈敏度達(dá)ppt級(jí)別
動(dòng)態(tài)機(jī)械分析儀:測(cè)量膠片玻璃化轉(zhuǎn)變溫度及熱變形參數(shù)
傅里葉變換紅外光譜儀:配備ATR附件進(jìn)行明膠成分分析
全自動(dòng)劃痕試驗(yàn)機(jī):最大載荷20N可調(diào)用于附著力定量測(cè)試
恒電位儀系統(tǒng):電化學(xué)工作站用于腐蝕行為研究
X射線衍射儀:晶體結(jié)構(gòu)分析系統(tǒng)用于銀顆粒晶型鑒定
1、咨詢:提品資料(說(shuō)明書(shū)、規(guī)格書(shū)等)
2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求
3、填寫檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)
4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測(cè))
5、收到樣品,安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)
6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù),編寫報(bào)告草件,確認(rèn)信息是否無(wú)誤
7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件
8、寄送報(bào)告原件