因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個人測試暫不接受委托，望見諒。
檢測項目
能量密度測試、脈沖寬度測定、重復(fù)頻率驗證、光斑均勻性分析、熱效應(yīng)評估、機械應(yīng)力測試、化學(xué)穩(wěn)定性檢驗、表面粗糙度測量、缺陷密度統(tǒng)計、吸收系數(shù)標(biāo)定、散射特性分析、等離子體演化監(jiān)測、非線性效應(yīng)驗證、損傷形貌表征、閾值重復(fù)性驗證、溫度梯度測試、濕度影響評估、污染敏感度分析、多脈沖累積效應(yīng)測試、波長依賴性研究、偏振特性影響評估、入射角度敏感性測試、涂層附著力驗證、材料相變監(jiān)測、熱傳導(dǎo)系數(shù)測定、應(yīng)力雙折射分析、色散特性檢驗、老化性能評估、抗疲勞特性測試、損傷后效追蹤
檢測范圍
Nd:YAG激光晶體、KTP倍頻晶體、熔融石英窗口片、藍寶石襯底、ZnSe透鏡、金剛石散熱片、介質(zhì)膜反射鏡、金屬膜反射鏡、增透鍍膜元件、分光棱鏡、光纖端面處理件、準(zhǔn)直器組件、振鏡掃描系統(tǒng)核心件、激光焊接頭保護鏡片、CO2激光器輸出鏡、飛秒激光壓縮光柵、啁啾鏡組模塊、光學(xué)相位板元件、光束整形器核心部件、非線性晶體模塊（BBO/LBO）、激光陶瓷材料樣品、復(fù)合金屬光學(xué)基底件（銅鎢合金）、金剛石薄膜窗口片類金剛石鍍膜元件（DLC）、抗反射微結(jié)構(gòu)表面器件（ARSS）、光子晶體光纖端面處理件（PCF）、超連續(xù)譜產(chǎn)生模塊核心件（SCG）、高反/高透濾光片組（HR/HT）、激光誘導(dǎo)擊穿光譜探頭（LIBS）、光束質(zhì)量分析儀校準(zhǔn)板（M測試板）、三維打印金屬粉末燒結(jié)基底
檢測方法
1.ISO21254標(biāo)準(zhǔn)方法：采用1-on-1與S-on-1測試程序確定零概率損傷閾值
2.光熱吸收法：通過泵浦-探測技術(shù)測量材料本征吸收系數(shù)
3.掃描電子顯微鏡(SEM)分析：對損傷坑進行三維形貌重構(gòu)與元素成分分析
4.光致發(fā)光光譜法：監(jiān)測缺陷態(tài)密度變化與載流子復(fù)合過程
5.白光干涉測量：量化表面微結(jié)構(gòu)形變與波紋度參數(shù)
6.時間分辨熱成像：利用高速紅外相機捕捉瞬態(tài)熱分布特征
7.聲發(fā)射監(jiān)測技術(shù)：實時捕獲材料內(nèi)部微裂紋擴展信號
8.拉曼光譜表征：分析晶格振動模式變化與相變過程
9.飛秒泵浦-探測技術(shù)：研究超快時間尺度內(nèi)的非線性響應(yīng)特性
10.有限元仿真建模：建立多物理場耦合的損傷預(yù)測模型
檢測標(biāo)準(zhǔn)
ISO21254-1:2011激光器及激光系統(tǒng)光學(xué)元件損傷閾值測試方法第1部分：定義與通則
GB/T16601-2017激光功率能量測試方法
IEC60825-1:2014激光產(chǎn)品安全第1部分：設(shè)備分類和要求
ASTME2520-15(2020)光學(xué)元件激光誘導(dǎo)損傷閾值的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
ISO11145:2018光學(xué)和光子學(xué)-激光器及其相關(guān)設(shè)備-術(shù)語和符號
GB/T31359-2015固體激光器主要參數(shù)測試方法
MIL-STD-1751A軍用光學(xué)元件激光損傷閾值試驗規(guī)程
DINENISO11551:2019光學(xué)和光子學(xué)-激光器和激光相關(guān)設(shè)備-光學(xué)元件吸收率的試驗方法
ANSIZ136.1-2022激光安全使用標(biāo)準(zhǔn)
GB/T34879-2017精密光學(xué)元件表面疵病檢驗方法
檢測儀器
1.OphirVega激光功率計：配備PE50-C高能探頭實現(xiàn)0.5J~500J寬域能量測量
2.SpiriconM-200s光束分析儀：采用12bitCCD實現(xiàn)1064nm波段光斑形態(tài)精確解析
3.CoherentBeamView系列波長擴展型光束診斷系統(tǒng)：支持190-1700nm全波段實時監(jiān)測
4.ThorlabsBP209-IR2紅外光譜儀：覆蓋900-1700nm波段的光譜分辨率達0.05nm
5.KeysightDSOX1204G示波器：20GHz帶寬實現(xiàn)ns級脈沖波形采集
6.JenoptikSpot掃描系統(tǒng)：0.5m步進精度完成樣品表面逐點輻照測試
7.FLIRX8580sc高速紅外熱像儀：12801024分辨率下實現(xiàn)1800Hz全幀頻采集
8.BrukerContourGT-X3白光干涉儀：垂直分辨率達0.01nm的3D表面形貌測量
9.HoribaLabRAMHREvolution顯微拉曼系統(tǒng)：532/633/785nm多波長激發(fā)配置
10.ZeissCrossbeam550聚焦離子束電鏡：實現(xiàn)納米級損傷坑的橫截面制備與分析
檢測流程
1、咨詢：提品資料(說明書、規(guī)格書等)
2、確認(rèn)檢測用途及項目要求
3、填寫檢測申請表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)
4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測)
5、收到樣品，安排費用后進行樣品檢測
6、檢測出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫報告草件，確認(rèn)信息是否無誤
7、確認(rèn)完畢后出具報告正式件
8、寄送報告原件
