微觀譜圖分析 ? 組成元素分析
定性定量分析 ? 組成成分分析
性能質(zhì)量 ? 含量成分
爆炸極限 ? 組分分析
理化指標(biāo) ? 衛(wèi)生指標(biāo) ? 微生物指標(biāo)
理化指標(biāo) ? 微生物指標(biāo) ? 儀器分析
安定性檢測(cè) ? 理化指標(biāo)檢測(cè)
產(chǎn)品研發(fā) ? 產(chǎn)品改善
國(guó)標(biāo)測(cè)試 ? 行標(biāo)測(cè)試
中析研究所檢測(cè)中心
400-635-0567
中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
公司地址:
北京市豐臺(tái)區(qū)航豐路8號(hào)院1號(hào)樓1層121[可寄樣]
投訴建議:
010-82491398
報(bào)告問(wèn)題解答:
010-8646-0567
檢測(cè)領(lǐng)域:
成分分析,配方還原,食品檢測(cè),藥品檢測(cè),化妝品檢測(cè),環(huán)境檢測(cè),性能檢測(cè),耐熱性檢測(cè),安全性能檢測(cè),水質(zhì)檢測(cè),氣體檢測(cè),工業(yè)問(wèn)題診斷,未知成分分析,塑料檢測(cè),橡膠檢測(cè),金屬元素檢測(cè),礦石檢測(cè),有毒有害檢測(cè),土壤檢測(cè),msds報(bào)告編寫等。
發(fā)布時(shí)間:2025-05-09
關(guān)鍵詞:材料金屬性能檢測(cè)機(jī)構(gòu),材料金屬性能試驗(yàn)儀器,材料金屬性能檢測(cè)范圍
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來(lái)源:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
因業(yè)務(wù)調(diào)整,部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托,望見(jiàn)諒。
金屬材料性能檢測(cè)體系包含四大核心模塊:
力學(xué)性能測(cè)試:拉伸強(qiáng)度、屈服強(qiáng)度、延伸率、斷面收縮率、硬度(布氏/洛氏/維氏)、沖擊韌性(夏比V型缺口)、疲勞強(qiáng)度及蠕變性能
化學(xué)成分分析:主量元素定量測(cè)定(C,Si,Mn等)、微量元素控制(S,P,As等)、合金元素配比驗(yàn)證(Cr,Ni,Mo等)及雜質(zhì)元素限量檢測(cè)
金相組織檢驗(yàn):晶粒度評(píng)級(jí)(ASTM E112)、相組成分析、非金屬夾雜物評(píng)定(ISO 4967)、脫碳層深度測(cè)量及熱處理組織驗(yàn)證
物理特性測(cè)試:導(dǎo)電率(IEC 60468)、熱膨脹系數(shù)(ASTM E228)、磁導(dǎo)率(IEC 60404-4)及密度測(cè)定(ISO 1183)
材料類別 | 典型產(chǎn)品 | 適用標(biāo)準(zhǔn) |
---|---|---|
結(jié)構(gòu)鋼 | 建筑型材/壓力容器/機(jī)械部件 | GB/T 700-2006 |
不銹鋼材 | 食品設(shè)備/醫(yī)療器械/化工管道 | ASTM A240/A240M |
鋁合金 | 航空航天件/汽車部件/電子殼體 | GB/T 3190-2020 |
高溫合金 | 渦輪葉片/核反應(yīng)堆部件 | HB/Z 140-2019 |
銅合金 | 導(dǎo)電元件/船舶配件/裝飾材料 | GB/T 5231-2012 |
拉伸試驗(yàn)法
GB/T 228.1-2021《金屬材料 拉伸試驗(yàn) 第1部分:室溫試驗(yàn)方法》
ASTM E8/E8M-22《金屬材料拉伸試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法》
光譜分析法
GB/T 4336-2016《碳素鋼和中低合金鋼 火花放電原子發(fā)射光譜分析法》
ISO 14707:2015《輝光放電發(fā)射光譜法通則》
顯微硬度法
GB/T 4340.1-2009《金屬材料 維氏硬度試驗(yàn) 第1部分:試驗(yàn)方法》
ASTM E384-22《材料顯微硬度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法》
沖擊試驗(yàn)法
ISO 148-1:2022《金屬材料夏比擺錘沖擊試驗(yàn)》
ASTM E23-22《金屬材料缺口試樣標(biāo)準(zhǔn)沖擊試驗(yàn)方法》
電子萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)(精度等級(jí)0.5級(jí))
配備高溫爐(最高1200℃)和低溫箱(最低-196℃),滿足寬溫域力學(xué)測(cè)試需求
直讀光譜儀(波長(zhǎng)范圍165-800nm)
采用CCD全譜檢測(cè)技術(shù),可同時(shí)測(cè)定72種元素含量(檢出限達(dá)ppm級(jí))
場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡(分辨率1nm)
集成能譜儀(EDS)和電子背散射衍射(EBSD)系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)微區(qū)成分與晶體結(jié)構(gòu)分析
X射線衍射儀(角度精度±0.001°)
配備高溫附件(最高1600℃),支持原位相變分析與殘余應(yīng)力測(cè)定
全自動(dòng)顯微硬度計(jì)(載荷范圍1gf-10kgf)
集成圖像識(shí)別系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)壓痕自動(dòng)定位與測(cè)量誤差≤±2%
旋轉(zhuǎn)彎曲疲勞試驗(yàn)機(jī)(頻率50-300Hz)
配備非接觸式應(yīng)變測(cè)量系統(tǒng),滿足高周疲勞測(cè)試需求(循環(huán)次數(shù)>1×10?)
電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(檢出限ppt級(jí))
采用四級(jí)桿碰撞池技術(shù),有效消除質(zhì)譜干擾,實(shí)現(xiàn)超痕量元素精準(zhǔn)測(cè)定
熱膨脹儀(溫度范圍-150℃~1600℃)
配備激光干涉測(cè)量系統(tǒng),線性膨脹系數(shù)測(cè)量精度達(dá)±0.05×10??/K
超聲波探傷儀(頻率范圍0.5-15MHz)
支持TOFD和相控陣技術(shù),缺陷檢出靈敏度Φ0.3mm平底孔當(dāng)量以上缺陷檢出率≥99%
1、咨詢:提品資料(說(shuō)明書、規(guī)格書等)
2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求
3、填寫檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)
4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測(cè))
5、收到樣品,安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)
6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù),編寫報(bào)告草件,確認(rèn)信息是否無(wú)誤
7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件
8、寄送報(bào)告原件